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[1]刘颖丹,苑进社,潘德芳.基于反射光谱的InxGa1-xN半导体薄膜厚度测量[J].重庆师范大学学报(自然科学版),2009,26(04):98-100.[doi:10.11721/cqnuj20090411]
 LIU Ying-dan,YUAN Jin-she,PAN De-fang.Thickness Measurement of InxGa1-xN Semiconductor Film Based on Reflection Spectra[J].期刊社,2009,26(04):98-100.[doi:10.11721/cqnuj20090411]
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基于反射光谱的InxGa1-xN半导体薄膜厚度测量

更新日期/Last Update: 2009-10-11