LIU Ying-dan, YUAN Jin-she, PAN De-fang
"/>(1.重庆师范大学 物理学与信息技术学院, 重庆 400047; 2. 重庆市高校光学工程重点实验室, 重庆 400047)
Thickness Measurement of InxGa1-xN Semiconductor Film Based on Reflection Spectra
刘颖丹,苑进社,潘德芳.基于反射光谱的InxGa1-xN半导体薄膜厚度测量[J].重庆师范大学学报自然科学版,2009,(4):98-100
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