本文首先简介了语音工作记忆（pWM）的本质及其与特殊语言损伤（SLI）的关系，指出pWM是用来对SLI表现型进行量化的一种认知指标，pWM任务中得分越低，表明存在SLI的可能性越大，然后从pWM角度阐述了SLI的心理机制模型，即自上而下简单模型和危险因素理论模型，以及SLI的相关遗传学研究，最后，指出SLI的产生是pWM缺陷和其他因素共同作用产生的，pWM得分低也只是作为遗传表现型的一个显著标志之一。迄今为止人们对表现型的理解，是不可能在认知缺陷和基因型之间建立一一对应的关系，未来有关SLI及其他发展性言语障碍的病因学理论，是需要遗传学者和心理学家共同努力来完成的。